细粉加工设备(20-400目)
我公司自主研发的MTW欧版磨、LM立式磨等细粉加工设备，拥有多项国家专利，能够将石灰石、方解石、碳酸钙、重晶石、石膏、膨润土等物料研磨至20-400目，是您在电厂脱硫、煤粉制备、重钙加工等工业制粉领域的得力助手。
超细粉加工设备(400-3250目)
LUM超细立磨、MW环辊微粉磨吸收现代工业磨粉技术，专注于400-3250目范围内超细粉磨加工，细度可调可控，突破超细粉加工产能瓶颈，是超细粉加工领域粉磨装备的良好选择。
粗粉加工设备(0-3MM)
兼具磨粉机和破碎机性能优势，产量高、破碎比大、成品率高，在粗粉加工方面成绩斐然。
石膏粉末中杂质元素的测定
国家标准｜《石膏化学分析方法》GB/T 54842024
《石膏化学分析方法》GB/T54842024将于2024年11月实施，较旧版增加了离子色谱法测氯离子、红外分析法测二氧化碳等新方法，并调整了结果表示方式，删除了一些旧方法。 国家标准 《 2024年6月14日 本发明属于石膏分析，具体涉及一种高倍浓缩、同时测定石膏中多种杂质组分含量的方法。背景技术： 1、石膏是自然界中一种珍贵的矿产原料，经工业加工后可用于食品、医药和建筑等领域。一种高倍浓缩、同时测定石膏中多种杂质组分含量的 2015年2月11日 本方法操作简单， 分析速度快， 测 定 结果可 靠， 可 以 同 时测 定 石膏 中 的 多 元素，综合酸溶和碱熔两种处理方法， 可以 实现石膏样品 的全元素分析。icpaes法测定石膏中的多元素含量 determination of multi 2024年8月7日 GB/T 54842012《石膏化学分析方法》标准详细规定了用于分析天然石膏、硬石膏和工业副产石膏中化学成分的基准法和代用法。 该标准对于确保石膏产品的质量和一致性 GB/T 54842012石膏化学成分分析影响含量杂质
EBSDXPS法分析磷石膏中杂质物相
2020年12月15日 利用扫描电子显微镜对磷石膏进行电子背散射衍射（EBSD）分析，根据被检样品衬度的区别探明磷石膏的杂质物相，利用X射线能谱分析（EDS）成分确定杂质物相组成； 2010年10月7日 对环境及人体都存在危害在脱硫石膏的资源化利用过程 中!有必要对其多种元素的含量进行准确测定 目前!石膏元素分析的主要方法是国标方法#PU),FA9+L1和,FA9`1应用于石膏多元素分析时的样品微波消解 石膏是单斜晶系矿物,主要成分是硫酸钙(Ca SO4),我国石膏矿资源丰富,其应用领域广泛地质样品石膏组成复杂,石膏纯度较低,常呈复合矿(混合矿)床目前,国家标准"石膏化学分析方法"(GB/T ICPAES和ICPMS测定石膏样品中主次元素的方法研究2013年11月1日 粉末中需分析的杂质元素及限值$为保证核级 R,;(粉末的产品质量$需建立准确测定核级 R,;(粉末中微量杂质元素的方法)钚中杂质元粉末中微量杂质元素的9L(48M>测定
熔融制样 X射线荧光光谱法测定含硫量高的石膏矿物中 主次
2015年7月24日 X射线荧光光谱仪测定石膏中钙、硫 、硅 等主次量元素的分析方法。针对硫含量在1260% ~5191% 之间的石膏样品,使用四硼酸锂偏 硼酸锂(质 量比22∶12)熔剂可次 。以在 采用X射线荧光光谱法测定石膏中钠、镁、铝、硅、硫、钾、钙、钛、锰、铁、锶等11种元素的含量样品研磨30 s后压片,样片用于X射线荧光光谱分析以GBW 03109、GBW 03110、GBW X射线荧光光谱法测定石膏中11种元素的含量 钛学术文献 目前，国内还未见采用dcGDMS法测定非导电的αAl2O3粉末中杂质元素含量的报道。本工作拟采用Cu粉与Al2O3粉末混合压片的方法，用基体归一化法计算混合粉末压片中杂质元素的含量，扣除导电介质中的杂质，以获得αAl2O3粉末中杂质元素的含量。 1 实验直流辉光放电质谱法测定氧化铝中的杂质元素 百度文库2014年3月12日 JCT 20732011 磷石膏中磷、氟的测定方法国家标准规范技术性规定电子版下载 1 星级： 6 页 JCT 20732011 磷石膏中磷、氟的测定方法国家标准规范技术性规定电子版下载 2 星级： 6 页 磷矿石中磷、钙、镁、锶、氟测定方法评述 JCT 20732011 磷石膏中磷、氟的测定方法 道客巴巴
铂中杂质元素测定实验报告ICPMS 百度文库
2010年11月12日 铂中杂质元素测定实验报告ICPMS资料调研表明，为解决粉末法的不足，采用溶液进样，ICP－AES[4567]（电感耦合等离子体原子发射光谱法）或ICP－MS（电感耦合等离子体质谱法）测定铂中微量杂质元素已成为一种发展趋势。 近年来ICPMS在高纯金属 1992年1月2日 二氧化铀粉末和芯块中杂质元素的测定 ICPAES 法标准下载,GB/T 133721992下载,本标准规定了二氧化铀粉末和芯块中铝、钙、镉、钴、铬、铜、铁、镁、锰、钼、镍、铅、锡、钛、钒和锌等16 种杂质素的测定原理、使用的仪器和试剂、分析步骤、分析 二氧化铀粉末和芯块中杂质元素的测定 ICPAES 法 安全管理网2023年7月5日 虽然对磷石膏中稀土元素的浸出进行了一些 研究，但对浸出过程动力学的深入研究很少。Walawalkar[19]等人通过研究石膏在无机酸中的溶 解度，间接说明了磷石膏中稀土元素的浸出过程，因为磷石膏中稀土元素的浸出效率受石膏溶解度 的限制。硝酸浸出磷石膏中稀土元素的动力学研究 BJTU2015年5月14日 并用ICPAES法测 定其中的杂质元素后进行扣除来计算二氧化锆的含 量。应用ICPAES法同时测定氧化锆中的杂质元素及 间接计算出二氧化锆含量，从而缩短分析周期，提高 效率。 2实验条件与方法 21仪器及工作条件 美国PE公司300全谱直读电感耦合 ICPAES测定氧化锆中杂质元素含量的研究 豆丁网
X射线荧光光谱法测定石膏中11种元素的含量 钛学术文献
波长色散X射线荧光光谱法同时测定铝锭中铝含量及11种杂质元素 X 荧光光谱法 “X射线荧光光谱法测定石膏中11种元素的含量”出自《理化检验化学分册》期刊2015年第2期文献，主题关键词涉及有X 射线荧光光谱法、石膏、元素等。钛学术提供该文献 工业硅粉杂质元素含量测试的方法改进简化实 验步 骤及 器皿 等方 面对 国标 方法进 行 了改进 1 ． 3 蒸发 温度 蒸发 温 度Fra Baidu bibliotek既 会影 响硼元 素 的准 确 测定 ， 又会 影 与优化 ， 提高了分析速度 ， 降低 了检测成本 ， 缩短 了 响整个反应 工业硅粉杂质元素含量测试的方法改进百度文库摘要： 石膏是单斜晶系矿物,主要成分是硫酸钙(Ca SO4),我国石膏矿资源丰富,其应用领域广泛地质样品石膏组成复杂,石膏纯度较低,常呈复合矿(混合矿)床目前,国家标准"石膏化学分析方法"(GB/T 54842012)是中国建筑材料科学研究总院,根据我国商品石膏品种的特点于GB/T 54842000基础上修订而成,主要适用于 ICPAES和ICPMS测定石膏样品中主次元素的方法研究粉末性能及其测定粉末不像致密体那样具有固定的形状，而表现为 与液体相似的流动性。然而由于颗粒间相对移动时存在摩擦，粉末的流 动性又是有限的。1．颗粒聚集状态 粉末中能分开，并独 立存在的最小实体称 为单颗粒。粉末性能及其测定 百度文库
碳化硅中杂质元素氮的测定 百度学术
碳化硅中杂质元素氮的测定 来自 知网 喜欢 0 阅读量： 120 作者： 薄素蕊 展开 摘要： 碳化硅是一种重要的化工原料,应用广泛,氮是其半绝缘性能的直接判定依据,目前尚无相关检测标准碳化硅中的氮在浓硫酸和混合催化剂的作用下,经氧化还原反应 2016年11月2日 ICP—OES测定高纯硅微粉中的杂质元素兰绿灯王峰中南冶金地质研究所湖北宜昌摘要：利用王水、氢氟酸将高纯硅微粉中的二氧化硅进行消解，再通过高氯酸冒烟赶走多余的氢氟酸及王水，消除基体效应的影响。采用ICP—OES同时测定其中的 ICPOES测定高纯硅微粉中的杂质元素 道客巴巴2020年9月29日 摘 要:高纯铬作为钢铁的添加材料,其杂质含量关系到材料的性能,高效、准确测定其杂质元 素的含量至关重要试验将粒度为150μm的高纯铬粉压制成片,建立了辉光放电质谱法 (GDGMS)测定高纯铬中Na、Mg、Al、Si等68种杂质元素的方法试验表明:通过优化辉光放电质谱法测定高纯铬中杂质元素2021年4月27日 1本发明属于化学检测技术领域，具体涉及一种碳化硅复合材料中铝、镁等杂质元素含量的测定方法。背景技术： 2碳化硅的硬度高、耐磨性和研磨性能好，并且铀抗热冲击、抗氧化、抗化学试剂作用、抗熔盐和抗熔融金属的高稳定性。 近年来关于其化学元素检测的报道有很多，并发布了国家标准gb 一种碳化硅复合材料中铝、镁等杂质元素含量的测定方法与流程
使用 Agilent 8900 ICPMS/MS 分析高纯度铜中的超痕量杂质
2019年1月17日 999999%）总共仅包含 1 mg/kg (ppm) 的目标杂质，因此，每种单独的杂质元素在 固体金属中的含量通常低于 001 ppm 或低于 0005 ppm。使用 Agilent 8900 ICPMS/MS 分析高纯度铜中的超痕量杂质 使用可选的“m 透镜”测定高基质样品中低 ppt 级的 碱金属2010年11月12日 铂中杂质元素测定实验报告ICPMS目前国内在铂纯度检测的标准方法均为直流电弧发射光谱法[123]。 该方法主要分析对象为粉末试样，对海绵状样品的处理相对简单，但对金属块屑状样品的处理就相对复杂繁琐了。铂中杂质元素测定实验报告ICPMS 百度文库2020年12月15日 EBSDXPS法分析磷石膏中杂质物相 唐明珠 1，王志英 1，王云山 2*，包炜军 2，杨 刚 2，孙 勇 3 1 河北工业大学化工学院，天津 2 中国科学院过程工程研究所，湿法冶金清洁生产技术国家工程实验室，北京 EBSDXPS法分析磷石膏中杂质物相摘要: 建立了采用电感耦合等离子体发射光谱（ICPAES）法测定二氧化镎粉末中Ca、Be、Cd等12种金属杂质元素含量的分析方法。 采用HNO 3HF混酸体系于聚四氟乙烯坩埚中溶解二氧化镎粉末样品，样品溶液进行调价后再用TEVA树脂柱进行预处理，接收的样品测试液采用ICPAES法进 ICPAES法测定二氧化镎粉末中的杂质元素
二氧化钛中杂质元素ICPMS法测定的研究 Study on the
2015年7月2日 收稿日期0040317通讯联系人黄冬根第1卷第4期Vol1No4分析科学学报JOURNALOFANALYTICALSCIENCE005年8月Aug已已已已已已已已已已已已已已已已已已已已已已已已已已已已已已已已已已已已已已已已已已已已已已已已已005文章编号404303二氧化钛中杂质元素ICPMS法测定的研究黄冬根已1廖世军1章新泉刘 2010年10月7日 中!有必要对其多种元素的含量进行准确测定 目前!石膏元素分析的主要方法是国标方法#PU)‘ +>>,*"""$该方法采用化学分析手段!操作复杂!容易引,FA9+L1和,FA9`1应用于石膏多元素分析时的样品微波消解 2022年9月5日 磷石膏中金属杂质铝镁锶的浸出动力学 眭滢!曾楚雄!王永杰!刘楚峰!管青军!!湖南科技大学资源环境与安全工程学院"湖南湘潭811#$1$ 摘%要!以云南磷化集团磷石膏为研究对象!用硫酸$盐酸$硝酸在不同温度条件下对磷石膏中杂质元素;)!:T!KN进磷石膏中金属杂质铝镁锶的浸出动力学 2015年2月11日 冶金分析，01，31：5156MetallurgicalAnalysis，01，31：51—56文章编号：1000——0051—06粉末压片X射线荧光光谱法测定氧化铝中杂质元素张爱芬，刘中国铝业股份有限公司郑州研究院，河南郑州帅，马慧侠，刘静摘剂丙二醇的选择和用量，考察了氧化铝粒度对X射线荧光强度的影响。试验表明，样品 粉末压片X射线荧光光谱法测定氧化铝中杂质元素 道客巴巴
二氧化铀粉末和芯块中杂质元素的测定 ICPAES 法 百度百科
《二氧化铀粉末和芯块中杂质元素的测定 ICPAES 法》是1992年12月1 日实施的一项中国国家标准。 新闻 贴吧 知道 网盘 图片 视频 地图 文库 资讯 采购 百科 百度首页 登录 注册 进入词条 全站 帮助 首页 秒懂百科 2023年8月14日 内容提示： 中 华 人 民 共 和 国 有 色 金 属 行 业 标 准 镍基合金粉化学分析方法 第 9 部分：杂质元素含量的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法 Methods for chemical analysis of nickel base alloy powder Part9: Determination of impurity elements contents Inductively coupled plasma atomic emission spectrometric method （送审稿） 202×× 镍基合金粉化学分析方法 第9部分 杂质元素含量的测定 电感 摘要： 随着钨及钨合金在宇航,原子能,电子工业及精密合金等工业中的应用日益广泛,大大促进了钨材工业的科研及生产的发展,与此同时也对钨,钨化合物及其合金的分析也提出了新的要求为此,近十年来对钨中杂质元素的分析方法研究也发展较快为了适应科研及生产的发展需要,钨中杂质的分析 金属钨及钨化合物中杂质元素的分析 百度学术对于光谱分析而言，钴酸锂材料中的基体钴属于典型的富线光谱元素，其 波长分布范围由169334 nm至9357 nm共包含近900条发射谱线，几乎含盖了 所有分析元素的波长；因此，对于这类样品中微量的杂质元素分析而言，除了 将会受到基体效应干扰的同时还将ICPAES法测定钴酸锂电池材料中锂及20种杂质元素含量
一种测定聚偏氟乙烯树脂中金属元素含量的方法与流程 X技术网
2020年12月29日 本发明属于含氟聚合物分析检测技术领域，具体涉及一种测定聚偏氟乙烯树脂中金属元素含量的方法。背景技术聚偏氟乙烯(pvdf)树脂是1,1二氟乙烯(vdf)的均聚物或vdf与其它含氟乙烯基单体的共聚物。pvdf树脂是一种性能优异的热塑性塑料，在石油化工、建筑、食品、水处理、电子电气和氟碳涂料等 2015年1月23日 摘要：本文参考美国药典USP对原辅料药品中元素杂质的限量要求及USP对元素杂质 的测定方法，采用有机溶剂二甲基亚砜（DMSO）直接溶解原料药样品，利用全谱型电感耦合等 离子体光谱 (ICPAES)测定了原料药品中的重金属元素和其它杂质元素ICP AES 法测定原料药样品中的元素杂质含量 Shimadzu2005年5月31日 关键词:ICPMS;钨精矿;杂质元素;内标法 中图分类号:065731 文献标识码:B 钨精矿中杂质元素含量的准确测定，对钨精 矿的利用有较大价值。钨精矿中杂质元素有相应 的标准分析方法川，其测定结果准确，但操作步 骤多，不同元素的测定采用不同的溶样方法及其ICPMS法测定钨精矿中杂质元素 thj目前，国内还未见采用dcGDMS法测定非导电的αAl2O3粉末中杂质元素含量的报道。本工作拟采用Cu粉与Al2O3粉末混合压片的方法，用基体归一化法计算混合粉末压片中杂质元素的含量，扣除导电介质中的杂质，以获得αAl2O3粉末中杂质元素的含量。 1 实验直流辉光放电质谱法测定氧化铝中的杂质元素 百度文库
JCT 20732011 磷石膏中磷、氟的测定方法 道客巴巴
2014年3月12日 JCT 20732011 磷石膏中磷、氟的测定方法国家标准规范技术性规定电子版下载 1 星级： 6 页 JCT 20732011 磷石膏中磷、氟的测定方法国家标准规范技术性规定电子版下载 2 星级： 6 页 磷矿石中磷、钙、镁、锶、氟测定方法评述 2010年11月12日 铂中杂质元素测定实验报告ICPMS资料调研表明，为解决粉末法的不足，采用溶液进样，ICP－AES[4567]（电感耦合等离子体原子发射光谱法）或ICP－MS（电感耦合等离子体质谱法）测定铂中微量杂质元素已成为一种发展趋势。 近年来ICPMS在高纯金属 铂中杂质元素测定实验报告ICPMS 百度文库1992年1月2日 二氧化铀粉末和芯块中杂质元素的测定 ICPAES 法标准下载,GB/T 133721992下载,本标准规定了二氧化铀粉末和芯块中铝、钙、镉、钴、铬、铜、铁、镁、锰、钼、镍、铅、锡、钛、钒和锌等16 种杂质素的测定原理、使用的仪器和试剂、分析步骤、分析 二氧化铀粉末和芯块中杂质元素的测定 ICPAES 法 安全管理网2023年7月5日 虽然对磷石膏中稀土元素的浸出进行了一些 研究，但对浸出过程动力学的深入研究很少。Walawalkar[19]等人通过研究石膏在无机酸中的溶 解度，间接说明了磷石膏中稀土元素的浸出过程，因为磷石膏中稀土元素的浸出效率受石膏溶解度 的限制。硝酸浸出磷石膏中稀土元素的动力学研究 BJTU
ICPAES测定氧化锆中杂质元素含量的研究 豆丁网
2015年5月14日 并用ICPAES法测 定其中的杂质元素后进行扣除来计算二氧化锆的含 量。应用ICPAES法同时测定氧化锆中的杂质元素及 间接计算出二氧化锆含量，从而缩短分析周期，提高 效率。 2实验条件与方法 21仪器及工作条件 美国PE公司300全谱直读电感耦合 波长色散X射线荧光光谱法同时测定铝锭中铝含量及11种杂质元素 X 荧光光谱法 “X射线荧光光谱法测定石膏中11种元素的含量”出自《理化检验化学分册》期刊2015年第2期文献，主题关键词涉及有X 射线荧光光谱法、石膏、元素等。钛学术提供该文献 X射线荧光光谱法测定石膏中11种元素的含量 钛学术文献 工业硅粉杂质元素含量测试的方法改进简化实 验步 骤及 器皿 等方 面对 国标 方法进 行 了改进 1 ． 3 蒸发 温度 蒸发 温 度Fra Baidu bibliotek既 会影 响硼元 素 的准 确 测定 ， 又会 影 与优化 ， 提高了分析速度 ， 降低 了检测成本 ， 缩短 了 响整个反应 工业硅粉杂质元素含量测试的方法改进百度文库摘要： 石膏是单斜晶系矿物,主要成分是硫酸钙(Ca SO4),我国石膏矿资源丰富,其应用领域广泛地质样品石膏组成复杂,石膏纯度较低,常呈复合矿(混合矿)床目前,国家标准"石膏化学分析方法"(GB/T 54842012)是中国建筑材料科学研究总院,根据我国商品石膏品种的特点于GB/T 54842000基础上修订而成,主要适用于 ICPAES和ICPMS测定石膏样品中主次元素的方法研究
粉末性能及其测定 百度文库
粉末性能及其测定粉末不像致密体那样具有固定的形状，而表现为 与液体相似的流动性。然而由于颗粒间相对移动时存在摩擦，粉末的流 动性又是有限的。1．颗粒聚集状态 粉末中能分开，并独 立存在的最小实体称 为单颗粒。
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